lidt ALPY 600 og M32 stuff

[Mogens.BildsøeDeltager Nova]

Hejsa,

har på det seneste arbejdet med de lidt mere simple aspekter af spektroskopi: Her
et forsøg på at bestemme
radialhastigheden af M32 baseret på et integreret spektrum. Dertil har jeg prøvet
at estimere overfladelysstyrkens profil (surface brightness profile) baseret på
de samme data- altså data fra et spektrum! Men kan man det, som beskrevet i det
linkede skriv ?

Interesserede
kan se resultatet af anstrengelserne her – rettelser og vejledning modtages med
tak!!

---

Hilsen Mogens B.

[Frank LarsenModerator Super Nova]

Hej Mogens,

Jeg har kigget dit spændende skriv igennem og ved første øjekast har jeg ikke fundet nogen iøjenfaldende fejl. (bortset fra at indholdet er der to gange ;-))

Det burde være muligt at gøre som har beskrevet i forhold til surface brightness profile (uden at jeg ved særlig meget om det andet end det du beskriver). Dine konklusioner vedrørende de helt svage dele, støj og influx fra M31 virker fornuftige. Jeg tror der også der kan være nogle instrumentmæssige ting som gør at der ikke skal lægges for meget vægt på denne del af data.

Med hensyn til de negative værdier i baggrunden så har du helt klart et (lille) kalibrerings issue. Gennemsnitsværdien af dine data uden for spalten bør enten have et snit på 0 eller være til den positive side (på grund af spredt lys i sprektrografens optik).
Det må skyldes at din Masterdark har for høj gennemsnitsværdi.

Du skriver du har kalibreret med både darks og bias frames. Hvorfor?
(kan være jeg har misforståpet din tekst..)

Hvis du har optaget Darks med eksakt samme længde som dine science frames, så er bias frames overflødige idet bias informationen er indeholdt i din darkframe. Derimod vil det ektra step introducere støj og jeg spekulerer lidt over om det lille negative offset kommer derfra.

Hvornår og hvordan er dine Darks optaget?
Har kameraet været _helt_ temperaturstabilt på det tidspunkt da du optog Science hhv. Darks og bias.?
Det kan være en god ide at optage darks både før og efter dine science frames.
Kan der have været risiko for at der er trængt falsk lys ind (retorisk svarer jeg selv nej da du bruger SBIG og der normalt er en shutter på deres kameraer).

Prøv at droppe den/de første darkframe(s) du optog og se om det ændre noget i din Masterdark. I sektionen for variable har vi erfaret at målte ADU i Dark frames har det med at afhænge af hvad der er optaget lige for inden samt af tiden der er forløbet siden den sidste eksponering. Men det er meget forskelligt fra kamera til kamera og i moderne kameraer forsøges dette løst med pseudo eksponeringer og IR pre flashing.

Men godt arbejde Mogens !

[Mogens.BildsøeDeltager Nova]

Hej Frank, tak for de
pæne ord og for at du har brugt tid på denne lille øvelse- det er jeg glad for.

M.h.t. til
de negative værdier efter dark kalibrering: Jeg er helt i overensstemmelse med
hvad du påpeger: de anvendte darks indeholdeer allerede bias- eller som jeg
skrev “… og fratrukket darks
incl. bias”. Altså at darks var incl. bias og derfor ingen selvstændig
bias kalibrering. Men kan da sagtens nu se forvirringen og at det citerede kan
misforstås.

Jeg har en
række spektre, som jeg skal videre med, og jeg vil i den forbindelse grave lidt
i om der på een eller anden måde er mærkværdigheder i de darks, mit setup
producerer.

Der er desuden
helt klart “instrumental effects”, som burde kalibreres ud; men det
er vist en kompliceret affære at afdække dem- een står dog højt på to do listen
i forbindelse med spektroskopien: Dechifrering af mit setup’s
“Instrumental broadening”. Har du en smart/autoriseret måde at
afdække den på?

---

Hilsen Mogens B.

[Frank LarsenModerator Super Nova]

Det ved jeg faktisk ikke.

Som jeg forstår det kræver det måling af en særlig spektral standard hvor der ikke er broadening af nogen art. Er ikke sikker på at neon-glimlamper og højtrykslamper kan bruges til det.
Måske nogle af linierne fra et koldkatode rør kan bruges.

Men det må kunne googles

https://www.researchgate.net/post/How_to_calculate_the_instrumental_broadening_bi_in_the_observed_XRD_pattern_for_the_W_H_plot2

[Frank LarsenModerator Super Nova]

Gravede lidt mere og det ser ud til at det mest er i Xray det er et stort problem,

men er væsentligt hvis man skal sammenligne spektrale EW eller FWHM målinger af spektrallinier fra forskellige spektrografer. Specielt hvis linierne er meget smalle.

http://www.unitronitalia.com/prodotti/analysis-and-interpretation-of-astronomical-sp.pdf
s. 21

Det må være noget med at måle FWHM og EW for nogle linier med KENDT EW og FWHM og så sammenligne det teoretiske med det målte.

[Mogens.BildsøeDeltager Nova]

Hej Frank, tak for
link; har allerede det sidste liggende som fast bibel under mine ibooks + et
par andre fra samme forfatter (“practical aspects of spectroscopy”)- synes
nu ikke, der anvises specifikke metoder til bestemmelse af “instrumental broadening” (IB for short), blot hvordan
der korrigeres herfor (huske ikke lige pp.).

Har hidtil blot
sjusset baseret på kalibreringsspektrenes smalleste linjer og dispersionen som
mit setup sampler ved.

---

Hilsen Mogens B.

[Forfatter]

Indlæg